テープ Tape

多彩なテープをご用意しています。

チップ裏面保護テープLC Tape

ロール - IR遮蔽タイプ -

上記は実測値であり、保証値ではありません。

LC2850(25) LC2850(40) 測定方法
裏面保護層(μm) 25 40  
外観 黒色 黒色
透過率 (%) < 5.0 < 1.0 波長:190 nm ~ 1600 nm
重量減少 (%) 1.1 1.1 測定装置:TG-DTA
剥離強度 (mN/10 mm) 5300 7100 銅箔 / 裏面保護層 / Siウェハ (#2000)
線膨張係数 (ppm) α2 110 110 測定装置:TMA
硬化後ウェハ反り (mm) < 0.5 < 0.5 8インチウェハ / 280 μm厚
MSL Level 1 Level 1 IRリフロー:260˚C / 3回
TCT Condition G Condition G JEDEC STANDARD (JESD22-A104-B)
Condition C: -65 ˚C⇔150 ˚C x 1000 サイクル
Condition G: -40 ˚C⇔125 ˚C x 1000 サイクル
不純物含有量
[ppm]
Na+ 0.07 0.07 測定装置:イオンクロマトグラフィ
抽出条件
サンプル:1 g、水:20 ml (121 ˚C)
NH4+ 5.4 5.4
Cl- 2.5 2.5
熱硬化条件 130 ºC, 2 時間 130 ºC, 2 時間  
備考 標準 標準  
LC88-25 LC88-40 測定方法
裏面保護層(μm) 25 40  
外観 黒色 黒色
透過率 (%) < 1.0 < 1.0 波長:190 nm ~ 1600 nm
重量減少 (%) 0.9 0.9 測定装置:TG-DTA
剥離強度 (mN/10 mm) 12000 11500 銅箔 / 裏面保護層 / Siウェハ (#2000)
線膨張係数 (ppm) α2 110 110 測定装置:TMA
硬化後ウェハ反り (mm) < 0.5 < 0.5 8インチウェハ / 280 μm厚
MSL Level 1 Level 1 IRリフロー:260˚C / 3回
TCT Condition C Condition C JEDEC STANDARD (JESD22-A104-B)
Condition C: -65 ˚C⇔150 ˚C x 1000 サイクル
Condition G: -40 ˚C⇔125 ˚C x 1000 サイクル
不純物含有量
[ppm]
Na+ 0.01 0.01 測定装置:イオンクロマトグラフィ
抽出条件
サンプル:1 g、水:20 ml (121 ˚C)
NH4+ 4.5 4.5
Cl- 2.3 2.3
熱硬化条件 140 ºC, 2 時間 140 ºC, 2 時間  
備考 高信頼性 高信頼性  

ロール - IR透過タイプ -

上記は実測値であり、保証値ではありません。

LC2826H LC2846 測定方法
裏面保護層(μm) 25 40  
外観 黒色 黒色
透過率 (%) < 50.0 < 35.0 波長:190 nm ~ 1600 nm
重量減少 (%) 1.1 1.1 測定装置:TG-DTA
剥離強度 (mN/10 mm) 9500 8500 銅箔 / 裏面保護層 / Siウェハ (#2000)
線膨張係数 (ppm) α2 120 120 測定装置:TMA
硬化後ウェハ反り (mm) < 0.5 < 0.5 8インチウェハ / 280 μm厚
MSL Level 1 Level 1 IRリフロー:260˚C / 3回
TCT Condition C Condition G JEDEC STANDARD (JESD22-A104-B)
Condition C: -65 ˚C⇔150 ˚C x 1000 サイクル
Condition G: -40 ˚C⇔125 ˚C x 1000 サイクル
不純物含有量
[ppm]
Na+ 0.02 0.02 測定装置:イオンクロマトグラフィ
抽出条件
サンプル:1 g、水:20 ml (121 ˚C)
NH4+ 5.6 5.6
Cl- 1.5 1.5
熱硬化条件 130 ºC, 2 時間 130 ºC, 2 時間  

プリカット - IR遮蔽タイプ -

上記は実測値であり、保証値ではありません。

LC88R25 CXXCE LC88R40 CXXCE 測定方法
裏面保護層(μm) 25 40  
外観 黒色 黒色
透過率 (%) < 1.0 < 1.0 波長:190 nm ~ 1600 nm
重量減少 (%) 0.9 0.9 測定装置:TG-DTA
剥離強度 (mN/10 mm) 12000 11500 銅箔 / 裏面保護層 / Siウェハ (#2000)
線膨張係数 (ppm) α2 110 110 測定装置:TMA
硬化後ウェハ反り (mm) < 0.5 < 0.5 8インチウェハ / 280 μm厚
MSL Level 1 Level 1 IRリフロー:260˚C / 3回
TCT Condition C Condition C JEDEC STANDARD (JESD22-A104-B)
Condition C: -65 ˚C⇔150 ˚C x 1000 サイクル
Condition G: -40 ˚C⇔125 ˚C x 1000 サイクル
不純物含有量
[ppm]
Na+ 0.01 0.01 測定装置:イオンクロマトグラフィ
抽出条件
サンプル:1 g、水:20 ml (121 ˚C)
NH4+ 4.5 4.5
Cl- 2.3 2.3
層間剥離力
(mN/25 mm)
340 340 剥離層間 / 裏面保護層
熱硬化条件 140 ºC, 2 時間 140 ºC, 2 時間  

プリカット - IR透過タイプ -

上記は実測値であり、保証値ではありません。

LC86R25 CXXCD LC86R40 CXXCD 測定方法
裏面保護層(μm) 25 40  
外観 黒色 黒色
透過率 (%) < 50.0 < 35.0 波長:190 nm ~ 1600 nm
重量減少 (%) 1.1 1.1 測定装置:TG-DTA
剥離強度 (mN/10 mm) 9500 8500 銅箔 / 裏面保護層 / Siウェハ (#2000)
線膨張係数 (ppm) α2 120 120 測定装置:TMA
硬化後ウェハ反り (mm) < 0.5 < 0.5 8インチウェハ / 280 μm厚
MSL Level 1 Level 1 IRリフロー:260˚C / 3回
TCT Condition C Condition G JEDEC STANDARD (JESD22-A104-B)
Condition C: -65 ˚C⇔150 ˚C x 1000 サイクル
Condition G: -40 ˚C⇔125 ˚C x 1000 サイクル
不純物含有量
[ppm]
Na+ 0.02 0.02 測定装置:イオンクロマトグラフィ
抽出条件
サンプル:1 g、水:20 ml (121 ˚C)
NH4+ 5.6 5.6
Cl- 1.5 1.5
層間剥離力
(mN/25 mm)
110 110 剥離層間 / 裏面保護層
熱硬化条件 130 ºC, 2 時間 130 ºC, 2 時間  

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